RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 6, страницы 802–804 (Mi phts7930)

Эта публикация цитируется в 14 статьях

Углеродные системы

Сравнительные характеристики спектров комбинационного рассеяния света пленок графена на проводящих и полуизолирующих подложках 6H-SiC

Р. В. Конаковаa, А. Ф. Коломысa, О. Б. Охрименкоa, В. В. Стрельчукa, Е. Ю. Волковb, М. Н. Григорьевb, А. М. Светличныйb, О. Б. Спиридоновb

a Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева НАН Украины, г. Киев
b Таганрогский технологический институт Южного федерального университета

Аннотация: Исследованы спектры комбинационного рассеяния света (КРС) графена на полуизолирующих и проводящих подложках 6H-SiC, сформированных путем предварительного и дополнительного отжига карбида кремния при различных температурах. Оценены степень совершенства пленок графена и размеры его кластеров. Показано, что для получения слоев графена с аналогичным структурным совершенством на проводящих и полуизолирующих подложках температура дополнительного отжига в первом случае должна быть выше.

Поступила в редакцию: 18.07.2012
Принята в печать: 20.08.2012


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2013, 47:6, 812–814

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025