RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 8, страницы 1027–1032 (Mi phts7982)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Особенности напряженно-деформированного состояния гетероструктур Si/SiO$_2$/Ge с наноостровками германия предельной плотности

В. В. Курилюк, О. А. Коротченков

Киевский национальный университет имени Тараса Шевченко, физический факультет

Аннотация: В рамках модели упругого континуума с использованием метода конечных элементов выполнены расчеты напряженно-деформированного состояния кремний-германиевых гетероструктур с полусферическими островками германия, выращенными на окисленной поверхности кремния. Показано, что при увеличении плотности островков до предельных значений в SiGe-структуре с открытыми квантовыми точками существенно изменяются величина и пространственное распределение полей упругих деформаций. Результаты теоретических расчетов позволяют выявить участки гетероструктуры с максимальным изменением напряженно-деформированного состояния, местоположение которых можно варьировать изменением плотности островков.

Поступила в редакцию: 04.12.2012
Принята в печать: 04.12.2012


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2013, 47:8, 1031–1036

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025