RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 8, страницы 1078–1081 (Mi phts7990)

Эта публикация цитируется в 7 статьях

Физика полупроводниковых приборов

Характеристики лазерных диодов, излучающих на длине волны 850 нм, с различными способами компенсации внутренних механических напряжений в гетероструктуре AlGaAs(P)/GaAs

Д. А. Винокуров, А. В. Лютецкий, Д. Н. Николаев, В. В. Шамахов, К. В. Бахвалов, В. В. Васильева, Л. С. Вавилова, М. Г. Растегаева, И. С. Тарасов

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Методом МОС-гидридной эпитаксии выращены лазерные гетероструктуры AlGaAsP/GaAs как без компенсации, так и с компенсацией внутренних механических напряжений путем введения в различные слои гетероструктуры фосфора, изменяющего параметр решетки слоя и тем самым влияющего на величину внутренних напряжений во всей лазерной гетероструктуре. Из структур изготовлены многомодовые мезаполосковые лазерные диоды с апертурой 100 мкм, излучающие на длине волны 850 нм, и исследованы их свойства. Показано, что структуры с компенсацией внутренних механических напряжений обладают линейностью ватт-амперной характеристики вплоть до токов накачки, соответствующих максимальной выходной мощности. Также структуры с компенсацией внутренних механических напряжений имеют более высокие значения характеристических температур $T_0$ и $T_1$ по сравнению со структурой без компенсации внутренних механических напряжений.

Поступила в редакцию: 05.12.2012
Принята в печать: 10.12.2012


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2013, 47:8, 1075–1078

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025