RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 9, страницы 1264–1269 (Mi phts8021)

Физика полупроводниковых приборов

Анализ механизмов световой деградации в солнечных фотопреобразователях $\alpha$-Si:H/$\mu$-Si:H

В. М. Емельяновa, А. С. Абрамовab, А. В. Бобыльa, В. Н. Вербицкийac, А. С. Гудовскихd, Е. М. Ершенкоa, С. А. Кудряшовa, Е. И. Теруковab, О. И. Честаa, М. З. Шварцab

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b НТЦ тонкопленочных технологий в энергетике, г. С.-Петербург
c ООО "Хевел", 123022 Москва, Россия
d Санкт-Петербургский академический университет — научно-образовательный центр нанотехнологий РАН (Академический университет)

Аннотация: Проведен анализ световой деградации слоя $i$-$\alpha$-Si:H в тандемных фотопреобразователях на основе структур $\alpha$-Si:H/$\mu c$-Si:H с использованием моделей “H-коллизий” и “плавающих” связей, а также их модификаций. Показано, что форма деградационной зависимости хорошо описывается всеми рассмотренными моделями. Оригинальные модели “H-коллизий” и “плавающих связей” в сравнении с модифицированными дают оценки для концентраций свободных связей при насыщении деградации, которые во всех случаях зависят от интенсивности вызвавшего деградацию света. Модифицированная модель “плавающих связей” позволяет исключить такую зависимость, а модифицированная модель “H-коллизий” описывает наличие этой зависимости в одном диапазоне освещенностей и ее отсутствие в другом, что наилучшим образом согласуется с экспериментальными данными.

Поступила в редакцию: 18.01.2013
Принята в печать: 31.01.2013


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2013, 47:9, 1252–1257

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025