RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 10, страницы 1376–1380 (Mi phts8043)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Оптические постоянные тонких пленок наночастиц кремния, полученных методом лазерного электродиспергирования

О. С. Ельцина, Д. А. Андроников, М. Ю. Семерухин, Д. А. Явсин, Ю. С. Вайнштейн, О. М. Сресели, С. А. Гуревич

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Продолжены исследования пленок, состоящих из аморфных плотноупакованных наночастиц кремния, полученных методом лазерного электродиспергирования. Были измерены спектры оптического пропускания и отражения пленок, изготовленных в вакууме и при различных давлениях кислорода, введенного в камеру для пассивации поверхности наночастиц. Рассчитаны спектры показателя преломления и коэффициента экстинкции пленок. По виду спектры оптических постоянных коррелируют со спектрами объемного аморфного кремния, но полученные величины отличаются от параметров объемного аморфного кремния. Различия связаны со значительным объемом пустот между наночастицами и с большим количеством оборванных связей (дефектов) на поверхности наночастиц. С увеличением содержания кислорода в пленках значения оптических постоянных уменьшаются, что отражает процесс пассивации оборванных связей кислородом.

Поступила в редакцию: 01.04.2013
Принята в печать: 08.04.2013


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2013, 47:10, 1367–1371

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025