RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 3, страницы 304–307 (Mi phts8167)

Электронные свойства полупроводников

Об энергетических уровнях серебра в твердых растворах Ge-Si

В. И. Тагировa, З. А. Агамалиевb, С. Р. Садыховаc, А. Ф. Гулиевc, Н. Ф. Гахрамановc

a Бакинский государственный университет, AZ-1073/1 Баку, Азербайджан
b Институт физики Национальной академии наук Азербайджана, AZ-1143 Баку, Азербайджан
c Сумгаитский государственных университет, Сумгаит, Азербайджан

Аннотация: Посвящена излучению примесных состояний элемента I B подгруппы серебра в твердом растворе Ge-Si, содержащем 18 ат% Si. Донорный уровень Ag обнаружен в кристаллах, двукратно легированных галлием и серебром, а его первый акцепторный уровень - в кристаллах, легированных только серебром. Монокристаллы получались вытягиванием из расплава с применением подпитывающего слитка. Легирование галлием обеспечивалось введением его в подпитивающий слиток, а Ag вводился в кристаллы методом диффузии. Из анализа температурной зависимости коэффициента Холла и уравнения электрической нейтральности кристалла определены глубины залегания донорного уровня и первого акцепторного уровня Ag от вершины валентной зоны, которые соответственно оказались равными 0.06 и 0.29 эВ.

Поступила в редакцию: 07.02.2011
Принята в печать: 21.06.2011


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2012, 46:3, 289–292

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025