RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 3, страницы 317–320 (Mi phts8170)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Электронные свойства полупроводников

Исследование методом электроотражения влияния $\gamma$-облучения на оптические свойства эпитаксиальных пленок GaN

А. Е. Беляевa, Н. И. Клюйa, Р. В. Конаковаa, А. Н. Лукьяновa, Б. А. Данильченкоb, Ю. Н. Свешниковc, А. Н. Клюйd

a Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева НАН Украины, 03028 Киев, Украина
b Институт физики Национальной академии наук Украины, 03028 Киев, Украина
c ЗАО "Элма Малахит", Москва, Зеленоград
d Киевский национальный университет им. Т. Шевченко, 03022 Киев, Украина

Аннотация: Представлены результаты измерений спектров электроотражения образцов эпитаксиальных пленок GaN на сапфире, подверженных действию $\gamma$-облучения дозами 10$^5$–2 $\cdot$ 10$^6$ рад. Рассчитанные на основе модели 3 переходов теоретические спектры электроотражения с достаточной точностью совпадают с экспериментальными данными. Полученные в рамках модели величины энергий и уширений переходов дают основание полагать, что в пленках GaN существуют внутренние механические напряжения, значения которых меняются в зависимости от дозы $\gamma$-излучения.

Поступила в редакцию: 27.07.2011
Принята в печать: 16.08.2011


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2012, 46:3, 302–305

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025