RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 3, страницы 376–378 (Mi phts8180)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Картирование усиления двухфотонной люминесценции в микроструктурах оксида цинка

С. В. Семинab, Н. Э. Шерстюкa, Е. Д. Мишинаa, К. Германc, Л. Кулюкc, T. Расингb, Л.-Х. Пенгd

a Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики, 119454 Москва, Россия
b Институт молекул и материалов, Университет Наймегена, 6525 НР Наймеген, Нидерланды
c Институт прикладной физики Академии наук Молдовы, MD2028 Кишинев, Республика Молдова
d Факультет электротехники и Институт фотоники и оптоэлектроники, Национальный университет Тайваня, 10617 Тайпей, Тайвань (КНР)

Аннотация: Приведены результаты экспериментального исследования в режиме картирования образца при комнатной температуре двухфотонной люминесценции в микроструктурах оксида цинка, представляющих собой свободно стоящие совокупности микростержней. Получены спектры двухфотонной люминесценции в экситонной области для отдельных микростержней. Степенна́я зависимость роста интенсивности люминесценции от мощности оптической накачки с показателем степени $n>$ 2 и наличие пороговой мощности, характеризующейся отклонением от квадратичной зависимости в экситонной области, свидетельствуют о возникновении усиления света в отдельном микростержне оксида цинка и условий, предшествующих лазерной генерации.

Поступила в редакцию: 05.09.2011
Принята в печать: 12.09.2011


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2012, 46:3, 360–362

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025