Физика и техника полупроводников,
2012, том 46, выпуск 8,страницы 1101–1107(Mi phts8313)
Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур
Исследования морфологических особенностей роста и оптических характеристик многослойных образцов пористого кремния, выращенных на подложках $n$-типа с эпитаксиально нанесенным $p^+$-слоем
Аннотация:
Исследованы особенности роста многослойного пористого кремния со слоями различной пористости, полученного электрохимическим травлением на пластине монокристаллического кремния $n$-типа (111) с эпитаксиально сформированным на поверхности $p^+$-слоем. Установлена возможность получения многослойной системы упорядоченных пор различного размера в рамках одного технологического цикла и показаны различия в оптических характеристиках отдельных слоев полученной структуры.
Поступила в редакцию: 31.01.2012 Принята в печать: 03.02.2012