RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 8, страницы 1108–1110 (Mi phts8314)

Эта публикация цитируется в 6 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Влияние различных обработок на свойства диодов Шоттки

И. Г. Пашаев

Бакинский государственный университет, AZ-1148 Баку, Азербайджан

Аннотация: Изучена причина появления избыточного тока вблизи температуры кристаллизации аморфного металлического сплава PbSb и одновременно объяснено влияние ультразвуковой обработки на свойства кремниевых солнечных элементов на основе диодов Шоттки с аморфным металлическим сплавом ($a$-PbSb)–$n$-Si. Установлено, что появление избыточного тока в диодах Шоттки ($a$-PbSb)–$n$-Si под действием термического отжига связано с изменениями структуры аморфной пленки металла при переходе в поликристаллическое состояние. Влияние ультразвуковой обработки на фотоэлектрические свойства солнечных элементов зависит от выбранного режима обработки.

Поступила в редакцию: 08.11.2011
Принята в печать: 21.11.2011


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2012, 46:8, 1085–1087

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025