RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 10, страницы 1314–1318 (Mi phts8347)

Эта публикация цитируется в 10 статьях

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Оптические свойства структур GaAs, содержащих периодическую систему слоев металлических нановключений AsSb

П. В. Лукинa, В. В. Чалдышевa, В. В. Преображенскийb, М. А. Путятоb, Б. Р. Семягинb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
b Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия

Аннотация: Исследованы оптическое отражение и пропускание структур GaAs, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низкой температуре и периодически delta-легированных сурьмой или фосфором. Периодичность легирования соответствовала брэгговскому условию для света с длиной волны в вакууме $\sim$1.4 мкм. Структуры были подвергнуты отжигу при различных температурах в диапазоне 400–760$^\circ$C, который приводил к формированию хаотической трехмерной системы металлических нановключений (квантовых точек) As в объеме эпитаксиального слоя GaAs, а также к формированию двумерных слоев металлических нановключений (квантовых точек) AsSb на $\delta$-слоях Sb. $\delta$-слои P не влияли существенно на формирование системы нановключений As. В спектрах оптического отражения и пропускания нами не обнаружено особенностей, которые можно было бы связать с неупорядоченной трехмерной системой нановключений As. Периодическая система двумерных слоев металлических нановключений AsSb проявила себя в виде резонансного пика в спектрах оптического отражения и поглощения. Величина резонансного отражения и поглощения увеличивалась с увеличением размера нановключений AsSb. Резонансная длина волны зависела от угла падения света в соответствии с законом Брэгга.

Поступила в редакцию: 05.04.2012
Принята в печать: 09.04.2012


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2012, 46:10, 1291–1295

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025