RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2011, том 45, выпуск 2, страницы 274–279 (Mi phts8473)

Эта публикация цитируется в 6 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Влияние водорода на локальную фазовую сепарацию в тонких слоях InGaN и свойства светодиодных структур на их основе

А. Ф. Цацульниковab, В. В. Лундинab, Е. Е. Заваринab, А. Е. Николаевab, А. В. Сахаровab, В. С. Сизовab, С. О. Усовab, Ю. Г. Мусихин, Д. Гертценc

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур РАН, г. Санкт-Петербург
c Laboratorium für Electronenmikroskopie, Universität (TH) Karlsruhe, D-76128 Karlsruhe, Deutschland

Аннотация: Представлены результаты исследований влияния добавки водорода при росте тонких слоев ($\sim$2–3 нм) InGaN на их структурные свойства и свойства светодиодных структур, содержащих в активной области гетероструктуры InGaN/GaN. Показано, что, помимо известного эффекта уменьшения среднего состава по In, добавка водорода приводит к изменению локальной фазовой сепарации в слоях InGaN. Добавка водорода при росте InGaN изначально вызывает подавление локальной фазовой сепарации, а добавка водорода при прерываниях роста после осаждения InGaN приводит к уменьшению размеров сформированных локальных In-обогащенных областей и к некоторому увеличению в них локального содержания атомов In.

Поступила в редакцию: 05.08.2010
Принята в печать: 16.08.2010


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2011, 45:2, 271–276

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026