Аннотация:
Экспериментально исследована в растровом
электронном микроскопе трехмерная функция генерации неравновесных
носителей в полупроводниках GaAs и GaInAsP. Параметры функции генерации
определялись при регистрации сигнала тока, индуцированного электронным
зондом в специально изготовленных гетероструктурах с
«внутренним» детектором. Впервые получено полное
аналитическое описание трехмерной функции генерации
электронно-дырочных пар в исследованных полупроводниках,
которое необходимо для решения практических задач
количественной растровой микроскопии.