Аннотация:
Рассмотрено накопление объемного заряда в собственном
анодном окисле и пиролитической двуокиси кремния в МДП структурах
на основе антимонида индия под влиянием сильнополевых обработок
и под действием рентгеновского излучения. Показано, что в диэлектрике при
различных воздействиях накапливается объемный заряд и изменяется плотность
поверхностных состояний на границе раздела полупроводник–диэлектрик.
УДК:
621.315.592
Поступила в редакцию: 14.03.1985 Принята в печать: 24.06.1985