RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1986, том 20, выпуск 3, страницы 413–415 (Mi phts98)

Зарядовые эффекты в МДП структурах на антимониде индия

В. А. Гуртов, О. Н. Ивашенков, Г. Л. Курышев

Петрозаводский государственный университет им. О. В. Куусинена

Аннотация: Рассмотрено накопление объемного заряда в собственном анодном окисле и пиролитической двуокиси кремния в МДП структурах на основе антимонида индия под влиянием сильнополевых обработок и под действием рентгеновского излучения. Показано, что в диэлектрике при различных воздействиях накапливается объемный заряд и изменяется плотность поверхностных состояний на границе раздела полупроводник–диэлектрик.

УДК: 621.315.592

Поступила в редакцию: 14.03.1985
Принята в печать: 24.06.1985



© МИАН, 2024