Н. А. Гостищев, А. С. Кубанкин, Н. Н. Насонов, В. В. Полянский, В. И. Сергиенко, В. А. Хабло, “Угловая зависимость положения когерентного пика в спектре поляризационного тормозного излучения релятивистских электронов в полукристалле”, Письма в ЖТФ, 2008, том 34, выпуск 17,страницы 78

Эта публикация цитируется в 9 статьях

Угловая зависимость положения когерентного пика в спектре поляризационного тормозного излучения релятивистских электронов в полукристалле

Н. А. Гостищев^ab, А. С. Кубанкин^ab, Н. Н. Насонов^ab, В. В. Полянский^ab, В. И. Сергиенко^ab, В. А. Хабло^ab

^a Белгородский государственный университет
^b Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, г. Москва

Аннотация: Выполнено экспериментальное измерение спектров рентгеновского поляризационного тормозного излучения (ПТИ) электронов с энергией 7 MeV в поликристаллических мишенях алюминия и меди. Измерена зависимость характеристик ПТИ от угла излучения и показано согласие экспериментальных данных и теоретических расчетов. Полученные результаты позволяют рассчитывать на развитие нового метода диагностики поликристаллических материалов, основанного на измерении характеристик когерентной составляющей ПТИ.

Поступила в редакцию: 04.02.2008