RUS
ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ
// Письма в Журнал технической физики
// Архив
Письма в ЖТФ,
1986
, том 12,
выпуск 3,
страницы
129–133
(Mi pjtf31)
Применение зондирующего излучения с двумя длинами волн для определения природы рассеивающих неоднородностей в полупроводниковых кристаллах
В. П. Калинушкин
,
В. И. Масычев
,
Т. М. Мурина
,
М. Г. Плоппа
,
A. М. Прохоров
Институт общей физики АН СССР, Москва
Поступила в редакцию:
02.12.1985
Полный текст:
PDF файл (396 kB)
Реферативные базы данных:
©
МИАН
, 2024