RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 1986, том 12, выпуск 3, страницы 129–133 (Mi pjtf31)

Применение зондирующего излучения с двумя длинами волн для определения природы рассеивающих неоднородностей в полупроводниковых кристаллах

В. П. Калинушкин, В. И. Масычев, Т. М. Мурина, М. Г. Плоппа, A. М. Прохоров

Институт общей физики АН СССР, Москва

Поступила в редакцию: 02.12.1985



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024