Нелинейно-оптический метод исследования и контроля микронеоднородности поверхности металлов и полупроводников

О. А. Акципетров, Л. Л. Кулюк, А. В. Петухов, Э. Е. Струмбан, В. И. Цыцану

Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова

Поступила в редакцию: 08.08.1986

Реферативные базы данных:

•