Спектроскопия $\delta$-легированных слоев GaAs : Si

Ю. Ю. Бачериков, Е. Ф. Венгер, Н. Л. Дмитрук, Д. В. Корбутяк, Д. И. Лубышев, В. П. Мигаль, О. В. Снитко, Н. А. Фидря

Реферативные базы данных:

•