RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 1990, том 16, выпуск 19, страницы 59–61 (Mi pjtf3478)

К вопросу о составе и стехиометрии поверхности GaAs, получаемом в процессе жидкофазной эпитаксии при изовалентном легировании

А. А. Аристархова, Ю. Ф. Бирюлин, С. С. Волков, С. В. Новиков, М. Ю. Тимашев




Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024