Исследование упругих характеристик эпитаксиальных слоев CaF$_{2}$ на Si(III) методом Мандельштам-бриллюэновской спектроскопии

В. В. Александров, A. М. Дьяконов, Ю. Б. Потапова, Н. С. Соколов

Реферативные базы данных:

•