RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2021, том 47, выпуск 21, страницы 13–15 (Mi pjtf4634)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Регистрация высокочастотных рельефно-фазовых голографических структур на фотоматериале ПФГ-04

Н. М. Ганжерлиa, С. Н. Гуляевb, И. А. Маурерa, А. В. Архиповb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого

Аннотация: Предложен новый вариант обработки фотографических пластинок для голографии на основе бихромированного желатина ПФГ-04 (производство ОАО “Компания Славич”, Переславль-Залесский) для изготовления высокочастотных рельефно-фазовых голографических решеток с пространственной частотой вплоть до 1500 mm$^{-1}$. В основе технологии лежат избирательное деструктивное воздействие на желатин коротковолнового УФ-излучения и последующее травление слоя различными реагентами. Впервые на фотопластинках ПФГ-04 получены рельефно-фазовые высокочастотные голографические решетки с максимальной дифракционной эффективностью 67%.

Ключевые слова: голографические рельефно-фазовые решетки, бихромированный желатин, пластинки фотографические ПФГ-04, коротковолновое УФ-излучение, ледяная уксусная кислота.

Поступила в редакцию: 30.06.2021
Исправленный вариант: 14.07.2021
Принята в печать: 15.07.2021

DOI: 10.21883/PJTF.2021.21.51621.18941



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024