RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2021, том 47, выпуск 20, страницы 31–34 (Mi pjtf4652)

Вероятность процесса захвата двух электронов быстрым ионом Не$^{2+}$ у атома Хе при различных параметрах удара

А. А. Басалаев, М. Н. Панов, О. В. Смирнов

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Измерены дифференциальные сечения рассеяния атомов гелия, образующихся при столкновении ионов Не$^{2+}$ с кинетическими энергиями 1.97, 3.00 и 7.17 keV/a.m.u. с атомами Хе в процессах с образованием медленных ионов ксенона с зарядами 2–4. Вычислена функция отклонения налетающих ионов. Определена вероятность осуществления всех этих процессов при различных величинах параметра удара сталкивающихся частиц. Определена роль электронных оболочек атома Хе 5$(s,p)$ и 4$(s,p,d)$ для процесса захвата двух электронов в зависимости от скорости сближения сталкивающихся частиц, параметра удара и зарядности образующихся ионов ксенона.

Ключевые слова: захват двух электронов, захват с ионизацией, дифференциальное сечение рассеяния, параметр удара.

Поступила в редакцию: 16.06.2021
Исправленный вариант: 06.07.2021
Принята в печать: 06.07.2021

DOI: 10.21883/PJTF.2021.20.51611.18921



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024