RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2021, том 47, выпуск 14, страницы 35–38 (Mi pjtf4735)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Золото-индуцированная кристаллизация тонких пленок аморфного субоксида кремния

Н. А. Луневab, А. О. Замчийab, Е. А. Барановa, И. Е. Меркуловаab, В. О. Константиновa, И. В. Корольковc, Е. А. Максимовскийc, В. А. Володинbd

a Институт теплофизики им. С.С. Кутателадзе Сибирского отделения Российской академии наук
b Новосибирский государственный университет
c Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН, г. Новосибирск
d Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск

Аннотация: Впервые в результате золото-индуцированной кристаллизации аморфного субоксида кремния ($\alpha$-SiO$_{x}$) получен поликристаллический кремний ($poly$-Si). Показано, что в процессе отжига образца со структурой подложка/тонкая пленка золота/тонкая пленка $\alpha$-SiO$_{0.2}$ при 335$^\circ$C $poly$-Si формируется в нижнем слое (на подложке), при этом золото диффундирует в верхний слой. При увеличении температуры до 370$^\circ$C механизм формирования $poly$-Si остается неизменным, только возрастает скорость процесса кристаллизации. По-видимому, процесс формирования $poly$-Si протекает путем образования силицидов золота, которые практически полностью распадаются на кристаллические фазы золота и кремния при 370$^\circ$C за 10 h.

Ключевые слова: тонкие пленки, субоксид кремния, поликристаллический кремний, золото-индуцированная кристаллизация, комбинационное рассеяние света.

Поступила в редакцию: 30.03.2021
Исправленный вариант: 21.04.2021
Принята в печать: 30.03.2021

DOI: 10.21883/PJTF.2021.14.51185.18793


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2021, 47:10, 726–729

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024