RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2021, том 47, выпуск 11, страницы 26–29 (Mi pjtf4772)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Эффект саморазогрева в беспереходных вертикальных полевых транзисторах на основе структур “кремний на изоляторе” с различной формой базы

А. Э. Aтамуратовa, Б. О. Жаббароваa, М. M. Халиллоев, A. Юсуповb

a Ургенчский государственный университет им. Аль-Хорезми
b Ташкентский университет информационных технологий им. Мухаммада аль-Хорезми, Ташкент, Узбекистан

Аннотация: Моделируется эффект саморазогрева в наномасштабном беспереходном вертикальном полевом транзисторе, изготовленном на основе структур “кремний на изоляторе” с поперечным сечением базы транзистора в форме прямоугольника, трапеции и треугольника. Показано, что для рассматриваемых структур температура в середине транзистора ниже, чем по его боковым граням около истока и стока. Помимо этого при прочих одинаковых условиях температура решетки зависит также от формы поперечного сечения базы.

Ключевые слова: эффект саморазогрева, температура решетки, теплопроводность, беспереходный FinFET-транзистор.

Поступила в редакцию: 29.12.2020
Исправленный вариант: 08.03.2021
Принята в печать: 08.03.2021

DOI: 10.21883/PJTF.2021.11.51003.18675


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2021, 47:7, 542–545

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024