Аннотация:
С помощью модели Фриделя для $d$-зоны переходного металла и модели локального дефекта для полупроводника получены аналитические выражения для перехода заряда (электронов или дырок) между металлом и полупроводником и высоты барьера Шоттки. Показано, что учет намагниченности металла ведет к увеличению перехода заряда и связанного с этим вклада в высоту барьера Шоттки. Численные оценки представлены для контактов Со и Ni с 6$H$- и 4$H$-политипами SiC.
Ключевые слова:магнитный металл, полупроводник, локальный дефект, переход заряда, высота барьера Шоттки.
Поступила в редакцию: 09.12.2020 Исправленный вариант: 09.03.2021 Принята в печать: 10.03.2021