Аннотация:
Предложена модель барьера Шоттки, в которой на интерфейсе присутствуют димеры, состоящие из полупроводниковых дефектов и ближайших к ним атомов металла. Между электронами дефектов и металлических атомов включено короткодействующее кулоновское отталкивание. Получены аналитические выражения для чисел заполнения атомов и дефектов и высоты барьера Шоттки.
Ключевые слова:интерфейсный полупроводниковый дефект, интерфейсный атом металла, кулоновское отталкивание, числа заполнения.
Поступила в редакцию: 23.10.2020 Исправленный вариант: 21.11.2020 Принята в печать: 22.11.2020