RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2020, том 46, выпуск 21, страницы 3–6 (Mi pjtf4943)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Низкотемпературный рост кубической фазы CdS методом атомно-слоевого осаждения на гибридных подложках SiC/Si

С. А. Кукушкинab, А. В. Осиповa, А. И. Романычевc, И. А. Касаткинc, А. С. Лошаченкоc

a Институт проблем машиноведения РАН, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
c Санкт-Петербургский государственный университет

Аннотация: Разработан новый метод эпитаксиального роста пленок сульфида кадмия (CdS) в метастабильной кубической фазе на подложках кремния с буферным слоем эпитаксиального карбида кремния путем атомно-слоевого осаждения. Данная фаза CdS достигается за счет низкой температуры роста ($\sim$180$^\circ$C). Идентификация кубической фазы выполнена как с помощью дифракции рентгеновских лучей, так и методом спектральной эллипсометрии за счет того, что основной пик поглощения света CdS в гексагональной фазе расщеплен на два пика: 4.9 и 5.4 eV, а в кубической фазе является нерасщепленным (вырожденным): 5.1 eV.

Ключевые слова: cульфид кадмия, карбид кремния, гетероструктуры, метод атомно-слоевого осаждения, диэлектрическая проницаемость, эллипсометрия.

Поступила в редакцию: 14.07.2020
Исправленный вариант: 14.07.2020
Принята в печать: 22.07.2020

DOI: 10.21883/PJTF.2020.21.50186.18466


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2020, 46:11, 1049–1052

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024