Аннотация:
Основное ограничение применения микроспектроскопии комбинационного рассеяния с усилением на острие (tip-enhanced Raman scattering, TERS) связано с отсутствием надежных сканирующих зондов. Представлена простая методика формирования TERS-зондов с высоковоспроизводимыми характеристиками, надежными и дающими достаточное усиление. Методика основана на модификации стандартных кантилеверов сканирующих зондовых микроскопов плазменным травлением с последующим формированием TERS-усиливающей области на вершине путем осаждения коллоидных наночастиц методом диэлектрофореза.
Ключевые слова:микроспектроскопия комбинационного рассеяния с усилением на острие, TERS, сканирующая зондовая микроскопия, сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), зонды СЗМ.
Поступила в редакцию: 12.05.2020 Исправленный вариант: 28.07.2020 Принята в печать: 28.07.2020