RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2020, том 46, выпуск 21, страницы 36–39 (Mi pjtf4952)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Высокоэффективные воспроизводимые зонды для спектроскопии комбинационного рассеяния с усилением на острие (TERS)

К. Е. Мочаловa, Д. О. Соловьеваab, А. Е. Ефимовcd, Д. В. Клиновe, В. А. Олейниковab

a Институт биоорганической химии им. академиков М. М. Шемякина и Ю. А. Овчинникова РАН, г. Москва
b Московский инженерно-физический институт (Национальный исследовательский ядерный университет)
c ФНЦ трансплантологии и искусственных органов им. В. И. Шумакова Минздравсоцразвития РФ
d ООО "СНОТРА", Москва, Россия
e Федеральный Научно-Клинический Центр Физико-Химической Медицины Федерального Медико-Биологического Агентства, Москва, Россия

Аннотация: Основное ограничение применения микроспектроскопии комбинационного рассеяния с усилением на острие (tip-enhanced Raman scattering, TERS) связано с отсутствием надежных сканирующих зондов. Представлена простая методика формирования TERS-зондов с высоковоспроизводимыми характеристиками, надежными и дающими достаточное усиление. Методика основана на модификации стандартных кантилеверов сканирующих зондовых микроскопов плазменным травлением с последующим формированием TERS-усиливающей области на вершине путем осаждения коллоидных наночастиц методом диэлектрофореза.

Ключевые слова: микроспектроскопия комбинационного рассеяния с усилением на острие, TERS, сканирующая зондовая микроскопия, сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), зонды СЗМ.

Поступила в редакцию: 12.05.2020
Исправленный вариант: 28.07.2020
Принята в печать: 28.07.2020

DOI: 10.21883/PJTF.2020.21.50195.18374


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2020, 46:11, 1084–1087

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024