RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2020, том 46, выпуск 20, страницы 19–22 (Mi pjtf4961)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Покрытие наноструктурированной профилированной поверхности Si слоем SiC

А. С. Гращенкоa, А. С. Кукушкинab, А. В. Осиповa

a Институт проблем машиноведения РАН, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого

Аннотация: Разработан метод покрытия профилированной поверхности Si слоем SiC, полностью сохраняющим исходную морфологию поверхности Si. Определены условия синтеза SiC, при которых исходный профиль поверхности Si трансформируется в профиль, покрытый слоем SiC без геометрических искажений. Экспериментально доказано, что критической температурой синтеза, при которой происходит формирование данного покрытия, является температура, равная 1050$^\circ$C.

Ключевые слова: карбид кремния, метод замещения атомов, профилированный кремний, полуполярный нитрид алюминия, полуполярный нитрид галлия, защитные покрытия.

Поступила в редакцию: 30.06.2020
Исправленный вариант: 15.07.2020
Принята в печать: 15.07.2020

DOI: 10.21883/PJTF.2020.20.50150.18447


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2020, 46:10, 1012–1015

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024