RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2020, том 46, выпуск 16, страницы 3–6 (Mi pjtf5013)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Лазерная генерация перенесенных на кремний инжекционных микродисков с квантовыми точками InAs/InGaAs/GaAs

А. Е. Жуковa, Э. И. Моисеевa, А. М. Надточийa, А. С. Драгуноваa, Н. В. Крыжановскаяa, М. М. Кулагинаb, А. М. Можаровc, С. А. Кадинскаяc, О. И. Симчукc, Ф. И. Зубовc, М. В. Максимовc

a Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», Санкт-Петербург, Россия
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет имени Ж. И. Алфёрова Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Микродисковые лазеры AlGaAs/GaAs с квантовыми точками InAs/InGaAs были перенесены на поверхность кремниевой пластины с помощью индиевого припоя. Микролазеры имеют общий электрический контакт, нанесенный поверх остаточной подложки $n^{+}$-GaAs, а индивидуальная адресация достигается за счет размещения микродисков $p$-контактом вниз на раздельные контактные площадки на кремнии. Не выявлено влияния чужеродной подложки на электрические, пороговые, тепловые и спектральные характеристики. Микродиски способны работать в непрерывном режиме без принудительного охлаждения с пороговой плотностью тока около 0.7 kA/cm$^{2}$. Длина волны генерации стабильна ($<$ 0.1 nm/mA) по отношению к току инжекции.

Ключевые слова: полупроводниковые лазеры, микродисковый лазер, наноструктуры, гибридная интеграция.

Поступила в редакцию: 24.04.2020
Исправленный вариант: 06.05.2020
Принята в печать: 06.05.2020

DOI: 10.21883/PJTF.2020.16.49844.18354


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2020, 46:8, 783–786

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024