RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2020, том 46, выпуск 11, страницы 34–38 (Mi pjtf5090)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Использование импульсного лазерного отжига для формирования омических контактов Mo/Ti к алмазу

М. Н. Дроздовa, Е. А. Архиповаa, Ю. Н. Дроздовa, С. А. Краевa, В. И. Шашкинa, А. Е. Парафинa, М. А. Лобаевb, А. Л. Вихаревb, А. М. Горбачевb, Д. Б. Радищевb, В. А. Исаевb, С. А. Богдановb

a Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
b Институт прикладной физики РАН, г. Нижний Новгород

Аннотация: Исследуется влияние импульсного лазерного отжига на процесс формирования омических контактов Mo/Ti к алмазу. С использованием метода вторично-ионной масс-спектрометрии показано, что лазерный отжиг контактов приводит к эффективной диффузии атомов углерода в слой титана и формированию карбида титана в переходной области с алмазом толщиной 15–20 nm. Быстрый термический отжиг такой же контактной системы сопровождается резким возрастанием содержания кислорода в слое титана и переходном слое с алмазом и возникновением окисла титана. При этом фаза карбида титана в переходном слое Ti-C не формируется. Показано также, что в использованном режиме лазерного отжига не происходит графитизации приконтактного слоя алмаза, что могло бы кардинально снизить механическую прочность и адгезию контактов.

Ключевые слова: алмаз, омические контакты, отжиг, карбиды, окислы, графитизация.

Поступила в редакцию: 25.02.2020
Исправленный вариант: 10.03.2020
Принята в печать: 12.03.2020

DOI: 10.21883/PJTF.2020.11.49497.18261


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2020, 46:6, 551–555

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024