RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2020, том 46, выпуск 6, страницы 16–19 (Mi pjtf5153)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Применение покрытий AlN для защиты поверхности гетероструктур системы AlGaAs/GaAs от взаимодействия с атмосферным кислородом

Е. В. Фоминa, А. Д. Бондаревb, И. П. Сошниковbc, N. B. Bercud, L. Giraudetd, M. Molinarid, T. Maurere, Н. А. Пихтинab

a Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет имени Ж. И. Алфёрова Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
d Laboratoire de Recherche en Nanosciences, Université de Reims Champagne-Ardenne, Reims, France
e Laboratoire de Nanotechnologie et d’Instrumentation Optique, ICD CNRS UMR 6281, Université de Technologie de Troyes, Troyes, France

Аннотация: Представлены результаты синтеза методом реактивного ионно-плазменного распыления тонких пленок нитрида алюминия и исследования их свойств с целью применения в качестве защитных покрытий торцевых резонаторов мощных полупроводниковых лазерных гетероструктур Al$_{x}$Ga$_{1-x}$As/GaAs. Исследования методом энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии и результаты эллипсометрии показали, что при остаточном давлении в камере порядка $\sim$10$^{-5}$ Torr в пленках образуется слой оксинитрида алюминия. При этом гетерограница пленка-подложка может претерпеть окисление. Однако пленки AlN толщиной порядка 100 nm, выращенные в среде чистого азота при остаточном давлении $\sim$10$^{-7}$ Torr, по-видимому, не содержат в составе кислород и могут надежно препятствовать его проникновению в область гетерограницы. Потенциально они могут служить эффективной защитой для гетероструктур, чувствительных к окислению.

Ключевые слова: полупроводниковые лазеры, тонкие пленки, пассивация, нитрид алюминия, деградация лазеров.

Поступила в редакцию: 28.10.2019
Исправленный вариант: 16.12.2019
Принята в печать: 16.12.2019

DOI: 10.21883/PJTF.2020.06.49158.18088


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2020, 46:3, 268–271

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024