RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2019, том 45, выпуск 6, страницы 13–15 (Mi pjtf5491)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Катодолюминесценция слоев TiO$_{2}$, полученных методом молекулярного наслаивания

А. П. Барабан, А. А. Селиванов, В. А. Дмитриев, А. В. Дрозд, В. Е. Дрозд

Санкт-Петербургский государственный университет

Аннотация: Использование метода локальной катодолюминесценции структур Si–TiO$_{2}$ и Si–SiO$_{2}$–TiO$_{2}$ способствует ответу на вопрос о природе центров, влияющих на работу мемристоров. Применение этого метода позволило установить, что электроформовка приводит к появлению во внешней части слоя TiO$_{2}$, отличающегося высокой концентрацией дефектов, люминесценции в спектральном диапазоне 250–400 nm. Это позволяет сделать заключение о формировании резкой межфазовой границы между диэлектрическими слоями, получить качественную оценку коэффициента поглощения слоя TiO$_{2}$ и оценить ширину его запрещенной зоны ($\sim$3.3 eV для данной технологии формирования окисного слоя).

Поступила в редакцию: 11.12.2018
Исправленный вариант: 11.12.2018
Принята в печать: 17.12.2018

DOI: 10.21883/PJTF.2019.06.47491.17637


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2019, 45:3, 256–258

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024