RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2019, том 45, выпуск 2, страницы 14–17 (Mi pjtf5560)

Влияние слоя аморфного кремния на адсорбционные свойства полупроводниковой структуры в условиях фотостимуляции

С. В. Стецюраa, А. В. Козловскийa, Д. М. Митинb, А. А. Сердобинцевa

a Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Изучена фотостимулированная адсорбция глюкозооксидазы (GOx) на пластины монокристаллического Si с покрытием из аморфного Si ($a$-Si). Оценка разности заполнения поверхности молекулами GOx при фотостимулированной адсорбции и темновой адсорбции позволила установить, что этот показатель увеличивается для структур, содержащих слой $a$-Si, в 2.5 раза при использовании $n$-Si и в 1.5 раза в случае $p$-Si. Показано, что в структуре $n$-Si/$a$-Si возможна реализация метода предварительной фотостимуляции процесса адсорбции GOx.

Поступила в редакцию: 10.09.2018

DOI: 10.21883/PJTF.2019.02.47215.17520


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2019, 45:1, 12–15

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024