RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2018, том 44, выпуск 24, страницы 150–157 (Mi pjtf5609)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Немонотонное изменение туннельной проводимости МДП-структуры с двухслойным диэлектриком при увеличении его толщины (на примере системы металл/SiO$_{2}$/CaF$_{2}$/Si)

Ю. Ю. Илларионовab, А. Г. Банщиковa, Н. С. Соколовa, S. Wachterc, М. И. Векслерa

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Институт микроэлектроники Технического университета Вены, Вена, Австрия
c Институт фотоники Технического университета Вены, Вена, Австрия

Аннотация: Рассматривается представляющийся на первый взгляд парадоксальным эффект увеличения туннельного тока в структуре металл–фторид кальция–кремний при добавлении слоя диоксида кремния между фторидом и металлом. Данный эффект немонотонного изменения туннельной проводимости с ростом толщины диэлектрика может иметь место при относительно высоких смещениях на структуре и связан с деформацией туннельного барьера, при которой туннелирование электронов происходит через его часть, формируемую окислом. При низких смещениях появление/утолщение дополнительного слоя приводит к естественному спаду тока. Аналогичное поведение в принципе возможно и для других сочетаний материалов.

Поступила в редакцию: 24.09.2018

DOI: 10.21883/PJTF.2018.24.47043.17535


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2018, 44:12, 1188–1191

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024