RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2018, том 44, выпуск 21, страницы 3–9 (Mi pjtf5645)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Внутрирезонаторная волноводная спектроскопия тонких пленок

А. В. Шульга, А. В. Хомченко, И. В. Шилова

Белорусско-Российский университет, Могилев, Беларусь

Аннотация: Предложен метод внутрирезонаторной волноводной спектроскопии для измерения малых оптических потерь в тонких пленках, который также позволяет осуществлять дискриминацию поперечных и продольных мод в лазерах с малым коэффициентом усиления без внесения в резонатор значительных потерь.

Поступила в редакцию: 05.06.2018

DOI: 10.21883/PJTF.2018.21.46849.17418


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2018, 44:11, 953–955

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024