Аннотация:
Предложена простая феноменологическая модель для оценки всплеска дрейфовой скорости электронов в транзисторных гетероструктурах, основанная на самосогласованном решении уравнений Шредингера, Пуассона и гидродинамической системы уравнений сохранения импульса и энергии. Продемонстрировано, что в DA-pHEMT-структурах с дополнительными потенциальными барьерами на основе донорно-акцепторного легирования, усиливающими локализацию горячих электронов, в слое канала для уменьшения времени пролета электронов под затвором создаются даже более благоприятные условия, чем в гетероструктурах с более глубокими квантовыми ямами, полученными за счет увеличения разрыва зон проводимости на границе гетероперехода.