RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2018, том 44, выпуск 16, страницы 67–74 (Mi pjtf5723)

Стимулированное излучение на длине волны 1.3 $\mu$m в метаморфной структуре InGaAs/InGaAsP с квантовыми ямами, выращенной на подложке Ge/Si (001)

В. Я. Алёшкинab, Н. В. Байдусьb, О. В. Вихроваb, А. А. Дубиновab, Б. Н. Звонковb, З. Ф. Красильникab, К. Е. Кудрявцевab, С. М. Некоркинb, А. В. Новиковab, А. В. Рыковb, И. В. Самарцевb, Д. В. Юрасовab

a Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
b Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского

Аннотация: Методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений получена лазерная структура c метаморфным слоем InGaAsP и квантовыми ямами InGaAs на неотклоненной подложке Si(001) с релаксированным Ge-буфером, излучающая при оптической накачке на длине волны 1.3 $\mu$m. Пороговая плотность мощности при температуре жидкого азота при накачке излучением с длиной волны 0.8 $\mu$m составила 250 kW/cm$^{2}$.

Поступила в редакцию: 07.03.2018

DOI: 10.21883/PJTF.2018.16.46478.17282


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2018, 44:8, 735–738

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024