Электрические и магнитные свойства ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на SiO$_{2}$/Si(001)

Ультратонкие поликристаллические пленки Fe выращены на окисленной поверхности подложки Si(001). Проведено измерение удельного сопротивления и магнитного гистерезиса пленок Fe в диапазоне толщин от 2.5 до 10 nm. На основе анализа полученных данных сделан вывод, что при толщине $\sim$6 nm происходит переход к структурно-сплошной пленке. Обнаружено, что данный переход сопровождается появлением у зерен Fe в этой пленке преимущественной ориентации (111).