RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2018, том 44, выпуск 7, страницы 39–46 (Mi pjtf5843)

Дозовая зависимость формирования нанокристаллов в имплантированных гелием слоях кремния

А. А. Ломовa, А. В. Мяконькихa, Ю. М. Чесноковb, В. В. Денисовcd, А. Н. Кириченкоc, В. Н. Денисовcde

a Физико-технологический институт РАН, г. Москва
b Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", г. Москва
c Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов, г. Троицк, Москва
d Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), Московская облаcть, г. Долгопрудный
e Институт спектроскопии РАН, Москва, г. Троицк

Аннотация: Впервые доказана возможность формирования нанокристаллов в слоях кремния, подвергнутых плазменно-иммерсионной ионной имплантации гелия с энергией 5 keV. Влияние дозы имплантации на микроструктуру слоев изучено методами рентгеновской рефлектометрии, просвечивающей электронной микроскопии и комбинационного рассеяния света. Установлено, что процесс формирования кремниевых нанокристаллов с размерами 10–20 nm имеет ярко выраженную зависимость от потока ионов и происходит при дозе 5 $\cdot$ 10$^{17}$ cm$^{-2}$ с последующим отжигом при 700–800$^\circ$C. Показано, что превышение этой дозы приводит к разрушению верхнего защитного субслоя и деградации оптических свойств нанокристаллов.

Поступила в редакцию: 07.11.2017

DOI: 10.21883/PJTF.2018.07.45883.17112


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2018, 44:4, 291–294

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024