RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2017, том 43, выпуск 24, страницы 72–79 (Mi pjtf6047)

Эта публикация цитируется в 7 статьях

Механизмы тока в слоях электроосажденных субмикронных полупроводниковых частиц

Н. Д. Жуковa, Д. С. Мосияшa, И. В. Синёвb, А. А. Хазановa, А. В. Смирновb, И. В. Лапшинc

a ООО "Реф-Свет", Саратов
b Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского
c АО "ГИРЕДМЕТ", Москва

Аннотация: Исследованы вольт-амперные характеристики (ВАХ) проводимости в мультизеренных слоях субмикронных частиц кремния, арсенида галлия, арсенида и антимонида индия. Наночастицы получены помолом монокристаллов на шаровой мельнице и после седиментации нанесены на подложки электроосаждением. Детальный анализ ВАХ позволил установить, что их поведение определяется механизмом межзеренной туннельной эмиссии из приповерхностных электронных состояний субмикронных частиц. Определены параметры эмиссионного процесса. Использование мультизеренных полупроводниковых структур возможно в газовых и оптических сенсорах, приемниках ИК-излучений.

Поступила в редакцию: 27.12.2016

DOI: 10.21883/PJTF.2017.24.45344.16641


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2017, 43:12, 1124–1127

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024