RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2024, том 50, выпуск 2, страницы 23–27 (Mi pjtf6589)

Исследование влияния облучения потоком электронов на фотоэлектрические и электрофизические свойства кремниевых гетероструктурных солнечных элементов

О. П. Михайловab, А. И. Барановa, А. С. Гудовскихab, Е. И. Теруковbcd, А. В. Кочергинbd, Н. Р. Костикb, О. К. Атабоевe

a Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет имени Ж. И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
b Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
c Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
d НТЦ тонкопленочных технологий в энергетике, Санкт-Петербург, Россия
e Научно-исследовательский институт физики полупроводников и микроэлектроники, Ташкент, Узбекистан

Аннотация: Изготовлены и изучены гетероструктурные солнечные элементы HJT на кремниевой подложке $n$-типа, а также исследовано влияние облучения электронами на их фотоэлектрические свойства. Показано, что при облучении электронами с флюенсом 5 $\cdot$ 10$^{14}$ cm$^{-2}$ происходит катастрофическое падение величины квантовой эффективности при длинах волн более 600 nm, приводящее к уменьшению тока короткого замыкания с 33 до 22 mA/cm$^2$ и напряжения холостого хода с 0.7 до 0.52 V, а при флюенсе 1$\cdot$10$^{15}$ cm$^{-2}$ – до 18 mA/cm$^2$ и 0.50 V соответственно. С помощью метода спектроскопии полной проводимости обнаружен дефект с энергией активации 0.18 eV в облученных структурах, который, вероятно, может быть ответственным за такое поведение характеристик, его концентрация увеличивается при увеличении флюенса.

Ключевые слова: солнечный элемент, спектроскопия полной проводимости, радиационная стойкость.

Поступила в редакцию: 11.09.2023
Исправленный вариант: 26.10.2023
Принята в печать: 26.10.2023

DOI: 10.61011/PJTF.2024.02.56979.19726



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025