Особенности морфологии поверхности тонких проводящих пленок оксидов индия и олова, полученных методом лазерно-ориентированного осаждения

Исследовано влияние напряженности управляющего электрического поля на свойства поверхности лазерно-осажденных тонких пленок на основе оксидов индия и олова (ITO). Показано, что с ростом напряженности управляющего поля снижается шероховатость покрытий с 3.4 до 0.4 nm. При смачивании каплями дистиллированной воды установлено, что в образцах, осаждавшихся при поле $E$ = 0 V/cm, реализуется состояние Касси–Бакстера, при $E$ = 100 V/cm наблюдается переход в состояние Венцеля, а при дальнейшем росте напряженности электрического поля в процессе осаждения ITO проявляется динамика в направлении к модели идеально гладкой поверхности.