RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2024, том 50, выпуск 4, страницы 34–38 (Mi pjtf6613)

Устойчивость органосиликатных low-k диэлектриков с бензольными мостиками к воздействию вакуумного ультрафиолетового излучения плазмы в процессе нанесения Ta барьерного покрытия

А. Ф. Пальa, А. Н. Рябинкинa, А. О. Серовa, Т. В. Рахимоваa, А. С. Вишневскийb, Д. С. Серегинb, К. А. Воротиловb, М. Р. Баклановb

a Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, Научно-исследовательский институт ядерной физики им. Д. В. Скобельцына, Москва, Россия
b МИРЭА — Российский технологический университет, Москва, Россия

Аннотация: Исследована устойчивость периодических мезопористых органосиликатных low-k диэлектриков с бензольными мостиками к воздействию вакуумного ультрафиолетового (ВУФ) излучения плазмы при осаждении танталовых барьерных покрытий методом магнетронного распыления с дополнительной ионизацией индукционным высокочастотным разрядом. Обнаружена корреляция состава и особенностей пористой структуры образцов с их гидрофобностью и устойчивостью к ВУФ излучению.

Ключевые слова: low-k диэлектрики, ВУФ, барьерные слои, PVD.

Поступила в редакцию: 29.08.2023
Исправленный вариант: 09.11.2023
Принята в печать: 16.11.2023

DOI: 10.61011/PJTF.2024.04.57099.19711



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025