Уменьшение времени получения изображения в сканирующем микроскопе ионных токов в “hopping”-моде

Предложен и опробован адаптивный алгоритм, уменьшающий время получения изображения и улучшающий стабильность работы сканирующего микроскопа ионных токов с аналоговой петлей обратной связи. В реальном эксперименте в режиме “hopping”-моды получено стабильное изображение тестового образа с четырехкратным уменьшением времени сканирования.