RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2024, том 50, выпуск 24, страницы 36–39 (Mi pjtf6866)

Международная конференция ФизикА.СПб/2024

Метод расчета концентрации релятивистских заряженных частиц

Л. А. Бакалейников, В. И. Кузнецов, Е. Ю. Флегонтова, Д. П. Барсуков, И. К. Морозов

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Развит $Q$, $G$-метод для изучения нестационарных процессов в бесстолкновительной плазме с релятивистскими частицами. Предложен способ расчета концентрации заряженных частиц, которые вылетают с эмиттера и движутся без столкновений в нестационарном электрическом поле произвольного вида. Получены аналитические выражения для концентрации частиц и тока при малом возмущении электрического поля. На основе полученных выражений построена теория устойчивости стационарных состояний релятивистского диода Бурсиана в отсутствие отражения электронов от потенциальных барьеров.

Ключевые слова: плазменный диод, релятивистские пучки электронов и позитронов, устойчивость решений.

Поступила в редакцию: 24.04.2024
Исправленный вариант: 11.07.2024
Принята в печать: 30.10.2024

DOI: 10.61011/PJTF.2024.24.59435.6385k



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025