RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2023, том 49, выпуск 11, страницы 43–46 (Mi pjtf7001)

Динамика извлечения электронов из сеточного плазменного катода на основе дугового разряда низкого давления

П. В. Москвин, М. С. Воробьёв, А. А. Гришков, М. С. Торба, В. И. Шин, Н. Н. Коваль, С. Ю. Дорошкевич, Р. А. Картавцов

Институт сильноточной электроники СО РАН, г. Томск

Аннотация: Предложен и экспериментально продемонстрирован способ оценки мгновенного значения коэффициента извлечения электронов из плазменного катода и динамики тока ионов в ускоряющем промежутке в источнике электронов на основе дугового разряда низкого давления со слоевой/сеточной стабилизацией границы эмиссионной плазмы. Способ основан на исключении тока электронов, эмитированных из плазменного катода, из общей величины тока в ускоряющем промежутке за счет “резкого” отключения тока дугового разряда. Полученные данные свидетельствуют в пользу изменения коэффициента извлечения электронов на величину до 20% в течение субмиллисекундного импульса тока разряда.

Ключевые слова: дуговой разряд, плазменный катод, слоевая стабилизация границы плазмы, источник электронов, плазменный анод с открытой границей, коэффициент извлечения электронов.

Поступила в редакцию: 16.03.2023
Исправленный вариант: 18.04.2023
Принята в печать: 18.04.2023

DOI: 10.21883/PJTF.2023.11.55538.19557



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025