RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2023, том 49, выпуск 19, страницы 43–46 (Mi pjtf7088)

Чувствительность обнаружения микрообъектов при радиографии толстых стальных объектов с использованием нового источника микрофокусного тормозного излучения на основе бетатрона

М. М. Рычков, В. В. Каплин, В. А. Смолянский

Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Томск, Россия

Аннотация: Показана возможность и оценена чувствительность обнаружения микрообъектов при радиографии толстых стальных объектов при использовании микрофокусного (13 $\mu$m) тормозного излучения нового источника, созданного на основе бетатрона с энергией электронов 18 MeV. Продемонстрированы контраст изображений и разрешение пары тонких (48 $\mu$m) проволок прибора Duplex IQI, что является основой определения чувствительности обнаружения микрообъектов.

Ключевые слова: бетатрон, пучок электронов, тормозное излучение, радиография.

Поступила в редакцию: 07.04.2023
Исправленный вариант: 12.08.2023
Принята в печать: 18.08.2023

DOI: 10.61011/PJTF.2023.19.56273.19583



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025