Устойчивость стационарных решений для режима с отражением частиц от потенциальных барьеров в диоде с электрон-позитронной плазмой

Численно изучается устойчивость стационарных состояний плазмы в диоде со встречными потоками электронов и позитронов для режима, когда часть вылетевших частиц отражается от потенциальных барьеров и возвращается обратно на электрод. Построены стационарные решения для потоков заряженных частиц с немоноэнергетическим распределением по скоростям. Установлено, что решения с отражением частиц от потенциальных барьеров, расположенных вблизи эмитирующих электродов, устойчивы, когда межэлектродное расстояние меньше некоторой пороговой величины. Все остальные решения являются неустойчивыми.