Аннотация:
Представлены результаты исследований структуры кремний на изоляторе Fe/Si/SiO$_2$/$p$-Si и изготовленного на ее основе простейшего устройства в виде сдвоенного диода Шоттки. Обнаружено влияние внешнего магнитного поля. Получены значения магнитосопротивления на переменном токе до 500% в поле 1.5 T и до 3500% в поле 9 T. Данный эффект объясняется наличием примесных состояний на интерфейсе диэлектрик/полупроводник и процессом их перезарядки. Определены энергии данных состояний.
Ключевые слова:
магнитосопротивление, структуры кремний на изоляторе, диод Шоттки, магнитное поле, примесные состояния.
Поступила в редакцию: 25.10.2024 Исправленный вариант: 10.12.2024 Принята в печать: 12.12.2024